Семинар состоится 17 марта 2015 г. в Москве в конференц-зале отеля «Катерина».
При создании передовых радиоэлектронных устройств используется элементная база различных мировых производителей. Перед началом серийного производства производится виртуальное моделирование в САПР и тестирование спроектированного устройства. Но не всегда компания-производитель компонентов предоставляет точные библиотеки устройств для САПР, кроме того, из-за сложности технологических процессов их параметры могут отличаться от заявленных. Вследствие этого, при моделировании могут возникать ошибки и неточности. Поэтому компания Keysight выпускает САПР IC-CAP для управления процессом измерений и экстракции параметров реальных компонентов и получения реалистичных поведенческих библиотек элементов для систем автоматизированного проектирования.
Формат семинара и его цель: На семинаре будет представлено законченное интегрированное решение IC-CAP компании Keysight Technologies, предназначенное для точной экстракции моделей активных и пассивных цепей и компонентов. САПР IC-CAP решает многочисленные задачи моделирования, включая управление приборами, сбор данных, графический анализ, моделирование, оптимизацию и статистический анализ. На семинаре будут рассмотрены практические примеры применения IC-CAP, принципы работы и возможности. Будет проведен обзор новых решений от компании Keysight по моделированию полупроводниковых приборов.
Вести мероприятие будет специалист Keysight EEsof Рент Ланге.
В ходе семинара будут рассмотрены следующие темы:
– Проведение измерений с помощью ПО Keysight WaferPro Express
– Новые возможности ПО IC-CAP 2014.04
– Демонстрация ПО MBP и MQA для экстракции моделей полупроводниковых приборов
– Обзор системы измерения дробового шума A-LFNA
Если Вы хотите принять участие в семинаре, отправьте, пожалуйста, заявку с указанием ФИО, должности, организации и контактных данных по факсу (495) 797 3902 или электронной почте tmo_russia@keysight.com до 16 марта 2015. Зарегистрироваться можно по ссылке ниже: